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日期：5月28日（周四）時(shí)間：8:30-17:00（8:30-9:00簽到）地點(diǎn)：河北國際大廈酒店四樓孔鳳廳地址：石家莊市長安區(qū)中山東路301號形式：線下技術(shù)研討會(huì)（Seminar）涉及技術(shù)：激光衍射
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2026ˉ44月17日-鄭州見 | 馬爾文帕納科多維材料表征技術(shù)研討會(huì)
點(diǎn)擊報(bào)名日期：4月17日（周五）時(shí)間：8:30-16:30地點(diǎn)：鄭州華智酒店一樓第七會(huì)議室地址：鄭州市中原區(qū)科學(xué)大道97號形式：線下技術(shù)研討會(huì)（Seminar）涉及技術(shù)：XRF、XRD、激光衍射(LD25
2026ˉ3XRF忠誠計(jì)劃 | 臨期設(shè)備限時(shí)煥新 立享驚喜獨(dú)家優(yōu)惠
馬爾文帕納科X射線熒光光譜儀自上世紀(jì)70年代進(jìn)入中國以來，為中國用戶帶來了快速、準(zhǔn)確、無損的元素分析手段。高穩(wěn)定性的硬件設(shè)備和易于操作的軟件系統(tǒng)倍受用戶認(rèn)可。MagiX、Axios系列、Epsilon16
2026ˉ3【活動(dòng)信息】馬爾文帕納科即將亮相Semicon China2026
展期：2026年3月25日-27日展館：上海新國際博覽中心N2號館地址：上海市?浦東龍陽路2345號展位號：N2-27062026年3月25日至27日，馬爾文帕納科（MalvernPanalytica16
2026ˉ3【活動(dòng)信息】馬爾文帕納科即將亮相粉末冶金展2026
展期：2026年3月24日-26日展館：國家會(huì)展中心（上海）地址：上海市青浦區(qū)崧澤大道333號展位號：2.1號館A2532026年3月24日至26日，馬爾文帕納科（MalvernPanalytical22
2026ˉ5【知識庫】DLS：什么是 Z 平均粒徑（Z-Average）？
Z平均粒徑是動(dòng)態(tài)光散射（DLS）測得的全部顆粒集合的強(qiáng)度加權(quán)平均流體力學(xué)粒徑。Z平均粒徑通過對測量得到的相關(guān)曲線進(jìn)行累積量分析（Cumulantsanalysis)計(jì)算得到，該分析假設(shè)顆粒為單一粒徑，并對自相關(guān)函數(shù)進(jìn)行單指數(shù)擬合。DLS自相關(guān)函數(shù)及指數(shù)擬合公式22
2026ˉ5ITC食品領(lǐng)域應(yīng)用 | 解析淀粉-多酚互作機(jī)制 從基礎(chǔ)研究到功能食品開發(fā)
本文摘要淀粉因其天然的生物相容性和結(jié)構(gòu)多樣性，常被視為多酚類物質(zhì)的理想載體。如何最大限度的實(shí)現(xiàn)多酚類物質(zhì)的生物利用度？需要從分子層面研究不同來源的淀粉與多酚的相互作用，揭示兩者的結(jié)合機(jī)制。本文以香蕉多酚與不同淀粉載體結(jié)合為例，介紹等溫滴定量熱法（ITC）實(shí)時(shí)監(jiān)16
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2026ˉ5【熱點(diǎn)應(yīng)用】在Empyrean銳影上獲得高質(zhì)量的USAXS超小角散射實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)
本文摘要本文闡述了Empyrean銳影X射線衍射儀上用于USAXS測量的Bonse-Hart型實(shí)驗(yàn)裝置。其核心組件包括高分辨率X射線光學(xué)模塊、PreFIX接口、高分辨率測角儀以及低噪聲探測器。該裝置結(jié)構(gòu)緊湊且機(jī)械穩(wěn)定性佳，可實(shí)現(xiàn)0.005°2θ的最小散射角測量14
2026ˉ5激光粒度分布儀保養(yǎng)全攻略：延長壽命的關(guān)鍵，90%用戶都忽略的細(xì)節(jié)
激光粒度分布儀是一種基于激光衍射與光散射原理的精密分析儀器，用于測定粉體、懸浮液或乳濁液中顆粒的粒徑大小及其分布情況。其基本工作原理是：當(dāng)一束高強(qiáng)度、高方向性的激光照射到顆粒樣品時(shí)，顆粒會(huì)因光的衍射和散射產(chǎn)生特定角度的散射光信號；不同粒徑的顆粒所產(chǎn)生的散射光角16
2026ˉ4X射線熒光光譜儀怎么存？這份“護(hù)機(jī)指南”，讓儀器穩(wěn)定又耐用！
X射線熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線激發(fā)原理的非破壞性元素分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)勘探、環(huán)境監(jiān)測、冶金、考古、電子電器及質(zhì)量控制等領(lǐng)域。其工作原理是：當(dāng)高能初級X射線照射到樣品表面時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中原子的內(nèi)層電子，使其脫離軌道；外層電子躍遷填補(bǔ)空14
2026ˉ4X射線熒光光譜儀總出狀況？這份“故障排查指南”，幫你快速止損
X射線熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線激發(fā)原理的非破壞性元素分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)勘探、環(huán)境監(jiān)測、冶金、考古、電子電器及質(zhì)量控制等領(lǐng)域。其工作原理是：當(dāng)高能初級X射線照射到樣品表面時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中原子的內(nèi)層電子，使其脫離軌道；外層電子躍遷填補(bǔ)空VIDEO CENTER
Mastersizer3000+在廣受贊譽(yù)的MS3000硬件平臺上，進(jìn)一步優(yōu)化性能，增加了多項(xiàng)智能輔助功能，讓設(shè)備更易用，結(jié)果的確信度更高。
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