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| ¥54200 |
| ≥1件 |
OTSUKA/日本大塚
經(jīng)銷商
HS-1000
65
江蘇蘇州市
2026/3/3 17:04:46
產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,綜合 |
日本優(yōu)選大塚電子Otsuka高靈敏度光譜儀
日本優(yōu)選大塚電子Otsuka高靈敏度光譜儀
產(chǎn)品信息
特 點(diǎn)
使用的光譜儀實現(xiàn)高精度測量
精度高的原因
● 使用的高性能多通道光譜儀（型號：MCPD）對光譜進(jìn)行解析
● 可獲取較多的透過率信息 實現(xiàn)高精度測量
(獲得的透射率信息約為 500 波長，是其他公司產(chǎn)品的約50 倍）。
超高相位差測量-超雙折射薄膜可高速、高精度測量
軸角度補(bǔ)正功能-即使樣品放置有偏離，也可輕松、再現(xiàn)性良好的進(jìn)行測量
便捷的軟件-極大縮短測量時間與處理時間，操作性大幅UP
產(chǎn)品規(guī)格
測量項目（薄膜、光學(xué)材料） | 相位差（波長分散）、慢軸、RTH*1、3次元折射率*1等 |
|---|---|
測量項目（偏光片） | 吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等 |
測量項目（液晶cell） | cell gap、預(yù)傾角*1 、扭曲角、配向角等 |
位相差測量范圍 | 0～60,000nm |
相位差重復(fù)性 | 3σ≦0.08nm（水晶波長板 約600nm） |
cell gap 測量范圍 | 0～600μm（Δn=0.1時） |
cell gap 重復(fù)性 | 3σ≦0.005μm（cell gap 約3μｍ、Δｎ＝0.1時） |
軸檢測重復(fù)性 | 3σ≦0.08°（水晶波長板 約600nm） |
測量波長范圍 | 400～800nm（其他可選） |
檢測器 | 多通道光譜儀 |
測量徑 | φ2㎜(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格) |
光源 | 100W halogen lamp |
數(shù)據(jù)處理部 | 個人計算機(jī)、顯示器 |
樣品臺尺寸:標(biāo)準(zhǔn) | 100㎜×100㎜（固定樣品臺） |
option | ·超高相位差測量 |
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大塚電子主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ)，在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例，為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源?照明相關(guān)方面，對國家級研究機(jī)構(gòu)、各個廠家的銷售量在逐步擴(kuò)大。
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您訪問的日本優(yōu)選大塚電子Otsuka高靈敏度光譜儀產(chǎn)品信息，由神崎國際貿(mào)易（蘇州）有限公司自行發(fā)布提供，產(chǎn)品價格為面議，如您想了解更多關(guān)于日本優(yōu)選大塚電子Otsuka高靈敏度光譜儀型號、參數(shù)、用途等信息，歡迎咨詢。
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