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        全息數(shù)字顯微鏡

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        • 全息數(shù)字顯微鏡

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        產(chǎn)品簡(jiǎn)介

        產(chǎn)地類別 進(jìn)口    
        全息數(shù)字顯微鏡DHM; 是Lyncee Tec公司的技術(shù)。其工作原理為:全息圖由參考光束和經(jīng)被測(cè)物體表面反射的物光光束相互干涉形成,攜帶有被觀測(cè)物體的波前信息,由數(shù)碼相機(jī)捕捉,再通過計(jì)算機(jī)對(duì)所記錄的全息圖進(jìn)行數(shù)值重建來得到被測(cè)物體的相位和振幅(光強(qiáng))信息,進(jìn)完成被測(cè)物體的數(shù)值三維重建。

        詳細(xì)介紹

        數(shù)字全息顯微鏡DHM® 的縱向精度是由激光的本征波長(zhǎng)來校準(zhǔn)的,因此提供了激光干涉級(jí)別的高精度和高可重復(fù)性的量測(cè)數(shù)據(jù)??v向分辨率達(dá)到了亞納米,橫向分辨率則由所選物鏡決定。
        另外得益于對(duì)所記錄全息圖的*數(shù)字重建運(yùn)算,DHM® 可數(shù)值選取所需聚焦的像面(數(shù)字自動(dòng)聚焦)。這一功能也允許用戶在數(shù)據(jù)記錄后重新尋找聚焦像面,而無需再調(diào)整樣品實(shí)際高度。

        全息數(shù)字顯微鏡

        反射式數(shù)字全息顯微鏡(DHM® -R),非掃描非接觸無損測(cè)量,顯示靜態(tài)和動(dòng)態(tài)三維形貌,表征周期振動(dòng)。

        全息數(shù)字顯微鏡

        超高速記錄動(dòng)態(tài)三維形貌:
        DHM® 采用非掃描機(jī)制,采集單幀圖像既能記錄樣品表面三維形貌,因此擁有其他技術(shù)無法匹敵的圖像采集速度。使用標(biāo)準(zhǔn)相機(jī)采集速度為視頻速率30幀/秒,而高速相機(jī)可以達(dá)到1000幀/秒,使得以下應(yīng)用變?yōu)榭赡埽?br/>研究可形變樣品三維動(dòng)態(tài)響應(yīng)
        表面大區(qū)域掃描分析
        高產(chǎn)量常規(guī)檢測(cè)
        生產(chǎn)線在線三維形貌捕捉

        MEMS測(cè)振分析,高可達(dá)25MHz
        頻閃模塊(可選配件)可同步DHM® 測(cè)量時(shí)激光脈沖與 MEMS器件的激勵(lì)信號(hào),獲取振動(dòng)周期內(nèi)的全視場(chǎng)振動(dòng)模態(tài)。 這些*的分析數(shù)據(jù)可提供以下信息:
        三維形貌時(shí)序圖
        頻率共振分析和響應(yīng)分析
        面內(nèi)面外振幅分析(面內(nèi)振幅測(cè)量精度1nm,面外振幅測(cè)量精度5pm)
        復(fù)雜運(yùn)動(dòng)表征,振動(dòng)模態(tài)表征,樣品動(dòng)態(tài)三維形貌


        多種可控環(huán)境下測(cè)量
        *的光學(xué)原理和光路設(shè)計(jì)使得DHM® 能夠滿足使用者在各種環(huán)境下的測(cè)量需求,提供靈活和便利的測(cè)量體驗(yàn):
        透過玻璃(蓋玻片、載玻片、玻璃窗口)或者浸潤(rùn)液
        觀測(cè)環(huán)境控制箱或真空腔內(nèi)部樣品,可改變環(huán)境參數(shù),比如溫度、濕度、氣壓、氣體成分等


        測(cè)量透明樣品三維形貌
        得益于DHM® 多激光源配置,通過反射分析軟件(可選配件)可以表征透明薄膜樣品,包括:
        透明結(jié)構(gòu)表面形貌
        多層透明薄膜組成結(jié)構(gòu)的厚度、折射率,測(cè)量范圍可從10納米至幾十微米
        柔性材料或是液體的形貌

        三維形貌時(shí)序圖: 水滴蒸發(fā)的全過程


        反射式數(shù)字全息顯微鏡DHM® -R擁有三種型號(hào),主要區(qū)別在于不同的激光源數(shù)量:
        > R1000型配備單激光源,是測(cè)量平滑表面和振動(dòng)的理想工具。
        > R2100型配備可以同時(shí)使用的雙激光源,在測(cè)量復(fù)雜表面和非連續(xù)結(jié)構(gòu)時(shí)更有優(yōu)勢(shì)。
        > R2200型是在R2100型基礎(chǔ)上擴(kuò)展了第三個(gè)激光源,增加測(cè)量范圍的同時(shí),也增添了針對(duì)半透明薄膜 結(jié)構(gòu)的測(cè)量能力。

        反射式數(shù)字全息顯微鏡DHM® R2100


        R1000 系列

        DHM®-R1000系列配置單波長(zhǎng)激光源,可以為您的樣品提供實(shí)時(shí)三維檢測(cè),擁有亞納米級(jí)分辨率,動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階高度為333nm,而對(duì)于連續(xù)表面動(dòng)態(tài)可測(cè)高度則達(dá)到了200μm。R1000系列是反射式DHM®的zui基本配置,性價(jià)比優(yōu)勢(shì)突出,使用極其便利。

        適用范圍包括平滑表面、樣品形貌、以及不超過333nm陡直臺(tái)階等。




        DHM R1000系列光路示意圖


        R2100 系列

        DHM®-R2100是按照能夠同時(shí)使用雙波長(zhǎng)激光源測(cè)試的規(guī)格設(shè)計(jì)的,擁有亞納米級(jí)分辨率,動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階高度達(dá)到了2.1 μm,對(duì)于連續(xù)表面動(dòng)態(tài)可測(cè)高度同樣為200 μm。


        兩個(gè)激光源擁有各自不同的參考光光路,但共用物光光路,主要優(yōu)勢(shì)在于:

        可測(cè)垂直臺(tái)階高度增加到了2.1 μm

        可以自由切換使用單、雙激光源進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試

        Mapping算法保證在可測(cè)垂直臺(tái)階高度范圍內(nèi)的亞納米測(cè)量精度


        DHM®-R2100家族系列能夠使用相機(jī)同時(shí)記錄兩束光分別產(chǎn)生的干涉條紋并投射到同一幅全息圖上,之后還能對(duì)兩束光分別進(jìn)行數(shù)字重建。 兩束光源產(chǎn)生的合成波長(zhǎng)使得動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階擴(kuò)展到了2.1 μm,這些過程均在視頻速率下完成。



        DHM R1000系列光路示意圖


        使用雙光源系統(tǒng)與使用單光源系統(tǒng)相比一樣便利。視不同被測(cè)樣品情況,使用者可以自由切換使用單/雙光源模式以獲取不同可測(cè)臺(tái)階范圍。

        另外,通過結(jié)合單光源與合成光源的測(cè)量數(shù)據(jù),在單光源模式下的亞納米垂直測(cè)量精度能夠利用功能*的Mapping算法適用到雙光源模式。


        DHM® 雙光源的原理

        R2100 系列提供雙光源測(cè)試模式,光源 λ_1 和光源λ_2將產(chǎn)生一個(gè)波長(zhǎng)為Λ的合成光源。同時(shí)合成光源測(cè)試,在保持亞納米級(jí)精度的同時(shí),將動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階高度增加到了2.1 μm,而對(duì)于連續(xù)表面動(dòng)態(tài)可測(cè)高度同樣為200 μm。


        當(dāng)然,雙光源系統(tǒng)的兩個(gè)光源也可以各自獨(dú)立單獨(dú)使用。



        R2200 系列

        DHM®-R2200 是按照三波長(zhǎng)激光源的規(guī)格設(shè)計(jì)的,擁有亞納米級(jí)分辨率,動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階高度達(dá)到了12 μm,對(duì)于連續(xù)表面動(dòng)態(tài)可測(cè)高度同樣為200 μm。

        DHM®-R2200 系列全息顯微鏡在實(shí)時(shí)測(cè)量方面達(dá)到了一個(gè)全新的高度。創(chuàng)新的光路設(shè)置包括了共用的物光光路以滿足三光源配置。三個(gè)光源允許使用兩組不同的雙光源組合,也就是說有兩個(gè)不同波長(zhǎng)的合成光源供選擇:


        • 動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階高度范圍增加到了12 μm

        • 可以自由切換使用單、雙激光源進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試

        • Mapping算法保證在可測(cè)垂直臺(tái)階高度范圍內(nèi)的亞納米測(cè)量精度

        • 使用雙光源測(cè)量與單光源同樣的便利性

          DHM®-R2200 系列除了擁有三光源,在其他方面與DHM®-R2100系列有著同樣的特點(diǎn)和功能。 DHM®-R2200 系列能夠使用相機(jī)同時(shí)記錄兩束光分別產(chǎn)生的干涉條紋并投射到同一幅全息圖上,之后還能對(duì)兩束光分別進(jìn)行數(shù)字重建。 兩束光源產(chǎn)生的合成波長(zhǎng)使得動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階擴(kuò)展到了12 μm,這些過程均在視頻速率下完成。


        DHM R2200系列光路示意圖

        使用三光源系統(tǒng)與使用單光源系統(tǒng)相比一樣便利。視不同被測(cè)樣品情況,使用者可以自由切換使用單/雙光源模式以獲取不同可測(cè)臺(tái)階范圍。


        DHM®-R2200系列配置的第三光源用來與另外兩個(gè)光源結(jié)合使用。 因此在雙光源使用模式下?lián)碛幸粋€(gè)短合成光波長(zhǎng)和長(zhǎng)合成光波長(zhǎng),進(jìn)一步拓寬了動(dòng)態(tài)測(cè)試范圍。DHM®-R2200系列的兩種合成波長(zhǎng)分別為6 μm 和30 μm,對(duì)于動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階高度分別為2.1 μm和12 μm。


        另外,通過結(jié)合單光源與合成光源的測(cè)量數(shù)據(jù),在單光源模式下的亞納米垂直測(cè)量精度能夠利用功能*的Mapping算法適用到雙光源模式。


        由于測(cè)量和圖像抓取速率快,DHM® 可以有效避免環(huán)境振動(dòng)對(duì)測(cè)量帶來的影響,防止出現(xiàn)圖像模糊的情況。實(shí)時(shí)顯示的三維動(dòng)態(tài)形貌保證了DHM® 使用的便利高效,而測(cè)量可以通過垂直相干掃描模式增加到厘米量級(jí)。


        DHM® 雙光源的原理

        R2200 系列提供兩組雙光源測(cè)試模式,光源 λ_1 和光源λ_2將產(chǎn)生一個(gè)長(zhǎng)合成波長(zhǎng)Λ光源,在保持亞納米級(jí)精度的同時(shí),將動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階高度增加到了12 μm,而對(duì)于連續(xù)表面動(dòng)態(tài)可測(cè)高度同樣為200 μm。

        另外,光源 λ_1 和光源λ_3也可以合成一個(gè)短合成波長(zhǎng)Λ光源,在保持亞納米級(jí)精度的同時(shí),將動(dòng)態(tài)可測(cè)垂直臺(tái)階高度增加到了2.1 μm。


        Mapping算法保證在可測(cè)垂直臺(tái)階高度范圍內(nèi)的亞納米測(cè)量精度,每個(gè)光源也可以各自單獨(dú)使用。


        參數(shù)指標(biāo)

        DHM型號(hào)

        R1000

        R2100

        R2200

        激光光源數(shù)量

        1

        2

        3

        工作波長(zhǎng) (± 1.0 nm)

        666 nm

        666 nm, 794 nm

        666 nm, 794 nm, 680 nm

        激光波長(zhǎng)穩(wěn)定性

        0.01 nm / °C (666 nm)

        樣品臺(tái)

        手動(dòng)或電動(dòng)XYZ樣品臺(tái),zui大移動(dòng)范圍 300 mm x 300 mm x 38 mm

        物鏡

        放大倍數(shù)1.25x 至 100x,可選標(biāo)準(zhǔn)物鏡、高NA值物鏡、蓋玻片矯正物鏡、長(zhǎng)工作距物鏡、水鏡、油鏡等

        物鏡臺(tái)

        6口旋轉(zhuǎn)物鏡臺(tái)

        電腦

        Dell新工作站,In® 多核處理器,高性能顯卡

        針對(duì)DHM優(yōu)化配置,zui小21寸顯示器

        軟件

        Koala數(shù)據(jù)采集分析軟件,基于C++ 和NET

        附加分析軟件供不同應(yīng)用分析

        (MEMS Analy sis Tool,Cell Analy sis Tool,Reflectometry Analy sis)

        數(shù)據(jù)格式

        多種保存格式,數(shù)據(jù)格式包括.bin格式和.txt格式

        圖像格式包括:tif格式和.txt矩陣格式

        性能

        測(cè)量模式

        單激光波長(zhǎng) 666 nm

        雙激光合成波長(zhǎng) 4.2 um

        雙激光合成波長(zhǎng) 24 um

        可用測(cè)量模式的DHM型號(hào)

        R1000, R2100, R2200

        R2100, R2200

        R2200

        測(cè)量精度[nm]

        0.15

        0.15 / 3.0

        20

        縱向分辨率[nm]

        0.30

        0.30 / 6.0

        40

        測(cè)量可重復(fù)性[nm]

        0.01

        0.01 / 0.1

        0.5

        動(dòng)態(tài)可測(cè)縱向范圍

        zui大200um

        zui大200um

        zui大200um

        zui大可測(cè)臺(tái)階高度

        zui大333 nm

        zui大2.1um

        zui大12um

        適用樣品表面類型

        平滑表面

        復(fù)雜或非連續(xù)結(jié)構(gòu)表面

        復(fù)雜或非連續(xù)結(jié)構(gòu)表面

        垂直校準(zhǔn)

        由干涉濾光片決定,范圍 ±0.1 nm

        圖像采集時(shí)間

        標(biāo)準(zhǔn) 500us (zui快可選10us)

        圖像采集速率

        標(biāo)準(zhǔn) 30 幀/秒 (1024 x 1024 像素) (zui快可選 1000 幀/秒)

        實(shí)時(shí)重建速率

        標(biāo)準(zhǔn) 25 幀/秒 (1024 x 1024 像素) (zui快可選 100 幀/秒)

        橫向分辨率

        由所選物鏡決定,zui大 300 nm

        視場(chǎng)

        由所選物鏡決定,范圍從 66um x 66um 至 5 mm x 5 mm

        工作距

        由所選物鏡決定,范圍從 0.3 至 18 mm

        數(shù)碼聚焦范圍

        高50倍于景深 (由所選物鏡決定)

        zui小可測(cè)樣品反射率

        低于 1%

        樣品照明

        zui低 1uW/cm2

        頻閃模塊

        適用于單光源和雙光源模式




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