產品描述
Hioki 3535 是日本日置電機株式會社推出的高速LCR測試儀，專為高頻電子元件（如高頻電感、陶瓷電容、射頻器件）的阻抗測量設計。其核心優勢在于 100kHz至120MHz超寬頻帶覆蓋 和 6ms超高速采樣率，支持120MHz高頻信號的精確捕捉，適用于5G通信、汽車電子、半導體封裝等高頻場景的研發與生產測試。設備采用模塊化設計，需搭配前置放大器單元（如9700-01/02/03）和測試冶具（如SMD冶具9677/9699）使用，支持14種參數測量（如阻抗|Z|、相位角θ、等效串聯電阻ESR等），并提供負載補償功能以提升標準元件比對精度。其50Ω輸出阻抗和±0.5%基本精度（阻抗）可滿足高頻元件的嚴苛測試需求。
主要特點
超寬頻帶與高速采樣
頻率范圍：100kHz至120MHz，覆蓋高頻至射頻頻段。
采樣率：最高120MHz，單次測量時間僅需6ms，支持生產線高速測試。
高精度與多參數測量
基本精度：阻抗|Z| ±0.5% rdg.，相位角θ ±0.3°，滿足高頻元件的精確分析。
支持14種參數測量：包括|Z|、|Y|、Q、Rp、Rs(ESR)、G、X、B、θ、Ls、Lp、Cs、Cp、D(tanδ)。
模塊化設計與靈活量程
阻抗：100mΩ至100kΩ（分三檔）。
電容：0.1pF至15.9μF。
電感：1nH至1.59mH。
需搭配前置放大器單元（如9700-01/02/03）擴展量程：
支持SMD測試冶具（如9677/9699）和連接電纜（如9678），適配不同封裝元件。
高頻信號源與檢測
恒壓(CV)模式：5mV至1V（10MHz以下），5mV至500mV（10MHz以上），最大電流20mA。
恒流(CC)模式：200μA至20mA（10MHz以下），200μA至10mA（10MHz以上），最大電壓1V。
負載補償與比較功能
提供負載補償功能，可修正測試夾具的寄生參數，提升標準元件比對精度。
支持兩組比較參數設置（百分比或絕對值），適用于生產線良品分選。
數據存儲與接口
控制盤可存儲30組測量條件，支持快速調用。
標準接口：GP-IB、RS-232C、EXT.I/O，兼容自動化測試系統。
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