目錄:蘇州美方機電有限公司>>三豐量具量儀>>三豐配件>> 544-535三豐高精度非接觸測量系統LSM-503S
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池 |
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三豐高精度非接觸測量系統LSM-503S
測量范圍：0.3-30mm
產地：日本
產品描述
實現非接觸，高速和高精度測量
多用途型， 測量范圍從0.3mm - 30mm。
高測量精度，在全測量范圍內達±1.0um。在窄測量范圍內達±(0.6+0.1ΔD)um高測量精度。
高重復精度達±0.1um。
技術參數
測量范圍： 0.3—30mm
分辨率： 0.00002一0.1mm可選
20℃時的直線度*： 寬范圍：±1.0um
窄范圍：±(0.6+0.1ΔD)um
重復精度(±2σ)： ±0.11um
定位： ±1.5um
測量區域： 10x30mm
激光波長： 650nm，可見光
掃描速率： 3200 scans/s
激光掃描速度： 226m/s
激光適用標準： IEC，FDA (544-536)，JIS (544-535)
*在測量區域中心
**在測量區域中由于工件定位的變化造成可能的測量錯誤ΔD=校正規和
三豐高精度非接觸測量系統LSM-503S產品說明：
射外徑測定機用高速掃描光素可以測量於傳統儀器難以測量的工作，如易碎或彈性零件，零件，需保持清結的零件，和在測量力作用下變形的零件，透明零件也可以測量。
三豐高精度非接觸測量系統LSM-503S特點：
1.每秒3200次高速雷射掃描可實現自動生產線上的***率測量。
2.測量單位的安裝型結構可實現各種測量。
3. LSM-500S專門為測量密線而設計。
4.防塵/防水保護級符合IP-64。
5.各測量單元的光學特性屬據可儲存在被提供的ID單元。
射外徑測定機用高速掃描光素可以測量於傳統儀器難以測量的工作，如易碎或彈性零件，零件，需保持清結的零件，和在測量力作用下變形的零件，透明零件也可以測量。
訂貨編號 | 544-531 | 544-533 | 544-535 | 544-537 | 544-539 | 544 -495C |
機型 | LSM-500S | LSM-501S | LSM-503S | LSM-506S | LSM-512S | LSM-902S |
顯示器 | 544 -071C /LSM-6200 | LSM-902S/6900 | ||||
品牌 | Mitutoyo | |||||
光源 | Wave Length : 650nm，可視光半導體 | |||||
測量范圍 | 0.005 -2mm | 0.05 -10mm | 0.3 -30mm | 1 -60mm | 1 -120mm | 0.1 -25mm |
小解析值 | 0.01um | 0.01um | 0.02um | 0.05um | 0.1um | 0.01um |
重現性 | 0.03um | 0.04um | 0.1um | 0.36um | 0.8um | 0.05um |
在20℃直線性＊ | 0.3um | 0.5um | 1um | 3um | 6um | 0.5um |
位置 | 0.4um | 0.5um | 1.5um | 4um | 8um | 0.5um |
測量領域 | 1x 2mm | 4x 10mm | 10x 30mm | 20x 60mm | 30x 120mm | 3x 25mm |
掃描頻率 | 3200回/秒 | 800回/秒 | ||||
使用溫度 | 0 ~ 40 C | |||||
使用濕度 | 35 ~ 85%RH (with no condensation) | |||||
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