無(wú)論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，Filmetrics F20 單點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x適用于各種應(yīng)用。
非接觸測(cè)量：避免損傷薄膜，適用于脆弱或敏感材料；
高精度與寬量程&：垂直分辨率達(dá)納米級(jí)，可測(cè)厚度范圍從1nm至3mm；
多場(chǎng)景適用性：基本上光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。
測(cè)量速度快：配置完成后，數(shù)秒內(nèi)即可完成測(cè)量。
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