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詳細介紹
島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7200追求高速·高靈敏度·高精度
新型能量色散X射線熒光光譜儀
EDX-7200
ü無損分析，保持固體/粉末/液體原始狀態
ü寬廣的元素定量濃度范圍 (Na-U/ppm-%)
ü可進行無標樣定量
更高靈敏度———檢出下限最大提高6倍————
l顯著提升金屬中微量元素的分析效果
l銅合金、焊錫、鋁合金中的檢測下限相比于以往機型大幅降低
更高速———處理能力最大提高30倍 ————
l無鉛錫焊分析案例
新功能———磷(P)的篩選分析————
l應對美國TSCA對磷的管控要求
l選配真空附件可進一步提高P的靈敏度
l同時新增錫(Sn)篩選分析套件(含標樣)
島津能量色散型X射線熒光光譜儀EDX-7200新升級———降低分析成本————
l閾值算法優化，有效減少法規相關(如RoHS)分析時間
l氦氣置換系統升級，降低氦氣消耗量
l新增防潮X射線光管，有效提高高濕度地區光管使用壽命
FP法
根據理論計算而得出X射線強度的定量方法。對于難 以找到標準樣品對應的未知樣品，FP法是有效的定量 分析方法。
配置自動設定平衡功能
樣品主要成分為C,H,O等時，FP法需要進行平衡（殘 余成分）設定。如根據特征形狀判定需要平衡設定時， 軟件將自動進行。
背景FP法
背景FP法指在僅計算X射線熒光（凈峰）強度的傳統FP法基 礎上，增加計算散射X射線（背景）強度的方法。（日本 ：「特許」No.5975181）
在提升少量有機物樣品的定量準確度、異型鍍層樣品的膜厚 測定、有機膜的膜厚測定方面。
薄膜FP法
標配薄膜FP法。可檢測多層膜的膜厚,同時對膜的組成進行 定量分析。薄膜FP法可對基板等基材、鍍層結果、元素信息 進行設定。
匹配功能
匹配功能是指將某種樣品的分析結果與所保存的譜庫 比較，按由高到低的順序自動排列出接近的物質。
譜庫分為含量數據和強度數據兩類，用戶均可登錄。 同時，含量數據更可手動直接錄入。
匹配結果
具有設計感的外觀
460mm寬的緊湊機身，配置大型樣品室
460mm寬的緊湊機身，與以往型號（EDX-720）相比，寬度減少了20%。
雖然機身緊湊，但卻擁有可放置300（W）×275（D）×約100（H）mm樣品（相當于A4大小）的大型樣品室。
“初次見面"也可輕松上手的軟件PCEDX Navi
為了使X射線熒光分析貼近每一個實驗室，深入淺出的軟件PCEDX Navi應運而生。 僅憑直覺即可操作的簡潔界面，無論是初學者還是專家，都可以體驗到便捷的操作環境。
簡潔的界面
在一個界面內可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。
在測定界面上可以直接切換準直器
可以一邊觀察樣品圖像,一邊切換準直器直徑。 同時,選定的直徑用黃色圓圈表示。
自動保存樣品圖像
測定開始時自動讀取樣品圖像，與數據文件夾關聯保存。
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