化工儀器網
詳細介紹
維修 更換 AMPTEK SDD檢測器工作原理
SDD 探測器的主要結構是一塊低摻雜的高阻硅，背面輻射入射處有一層很薄的異質突變結，正面異質摻雜電極設計成間隔很短的條紋。反轉偏置場在電極間逐步增加，形成平行表面的電場分量。耗盡層電離輻射產生的電子受該電場力驅動，向極低電容的收集陽極 “漂移"，形成計數電流。
產品特點
高計數率：由于收集陽極的電容極低，相比通常的硅 PIN 器件，SDD 具有更短的上升時間，因而特別適合在高計數率的情況下工作，計數率可達 1,000,000 CPS 以上。
高能量分辨率：SDD 的陽極面積小于通常硅 PIN 器件，電容減小，在收集等量電荷的情況下具有更高的電壓，提高了其能量分辨率。如 70 mm2 的 FAST SDD 探測器，在 5.9 keV 時能量分辨率可達 123 eV FWHM。
可在常溫下工作：SDD 的電容和漏電流比一般探測器小兩個數量級以上，通常把場效應管（FET）和珀爾帖效應器件整合到一起，常溫下就能滿足制冷需求，適用于便攜式設備。
增益穩定性高：采用 CMOS 電荷靈敏前置放大器，增益穩定性 < 20 ppm/°C。
主要型號及參數
以 70 mm2 FAST SDD 為例，其有效面積為 70 mm2，準直至 50 mm2，硅厚度 500 µm，采用 TO - 8 封裝。窗口有 0.5 密耳（12.5 µm）Be 或 C2 (Si?N?) 兩種選項，前置放大器輸出上升時間 < 60 ns，總功率 < 2 W，工作溫度范圍為 - 35°C 至 + 80°C。
維修 更換 AMPTEK SDD檢測器應用領域
超快速臺式和手持式 XRF 分析儀：用于快速分析樣品中的元素成分。
掃描電鏡（SEM）中的 EDS 系統：作為 EDS 系統的一部分，用于掃描 / 繪制樣品譜圖，分析樣品的元素分布。
在線流程控制：可實時監測生產流程中的元素變化，實現質量控制。
X 射線分揀機：根據元素成分對物品進行分揀。
化工儀器網