離子遷移失效難以管控？多通道絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)提供解決方案

離子遷移失效具備強隱蔽性，前期無明顯外觀變化，僅表現(xiàn)為絕緣電阻緩慢劣化，故障爆發(fā)無規(guī)律，電子組件長期可靠性難以量化管控。華測儀器絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)采用集成架構(gòu)：恒溫恒濕環(huán)境倉 + 多通道高精度電阻采集主機；工況準(zhǔn)確復(fù)現(xiàn)：模擬 85℃/85% RH 濕熱疊加直流偏壓等復(fù)雜服役環(huán)境；全過程動態(tài)監(jiān)測：長期持續(xù)加壓，實時存儲絕緣電阻變化數(shù)據(jù)，追溯失效演變過程。

高性能測試配置

通道能力：標(biāo)準(zhǔn) 128 單獨通道，可拓展 960 通道并行測試

測量量程：10?~101?Ω 全區(qū)間覆蓋，高低絕緣均可準(zhǔn)確檢測

電壓定制：100V–1500V 直流測試電壓，適配多行業(yè)測試規(guī)范

耐久測試：支持1~1000小時不間斷連續(xù)老化

高速采集：2分鐘完成128 通道完整掃描，批量測試效率得到優(yōu)化

多方面防護保障

搭載過壓、過流、過溫三重硬件保護，高壓測試全程逐通道實時監(jiān)控；發(fā)生短路、過溫、漏電異常時系統(tǒng)自動切斷高壓，留存故障溯源數(shù)據(jù)，保障長時間無人值守老化測試過程穩(wěn)定。

可完成絕緣材料、PCB 電路板、功率器件、封裝組件離子遷移可靠性驗證，縮短研發(fā)迭代周期，減少隱性失效，穩(wěn)定產(chǎn)品出廠可靠性。