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        目錄:優尼康科技有限公司>>薄膜厚度測量>>Filmetrics膜厚測量儀>> F50Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING

        Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING

        • Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING
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        參考價 面議
        具體成交價以合同協議為準
        參考價 面議
        具體成交價以合同協議為準
        • 品牌 KLA-Tencor
        • 型號 F50
        • 廠商性質 代理商
        • 所在地 上海
        屬性

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        更新時間:2025-06-24 14:25:46瀏覽次數:7175評價

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        產地類別 進口 價格區間 面議
        應用領域 醫療衛生,生物產業,電子/電池 波長范圍 190nm-1340nm
        光源 鎢鹵素燈、氘燈 厚度測量范圍 5nm-2mm
        測量精度 0.02nm 光斑大小 標準1.5毫米
        樣品臺尺寸 1-300mm
        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統,可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺,可以快速的定位所需測試的點并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺,以求能夠做成千上萬次測量。

        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀




        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品介紹:

        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統,可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺,可以快速的定位所需測試的點并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺,以求能夠做成千上萬次測量。



        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品優勢:

        • 自動化薄膜厚度繪圖系統,快速定位、實時獲得結果;

        • 可測樣品膜層:基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量;

        • 測繪結果可用2D或3D呈現,方便用戶從不同的角度檢視;



        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀測量原理:

        當入射光穿透不同物質的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產生震蕩的現象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。



        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀常見工業應用:

        半導體膜層

        顯示技術

        消費電子

        派瑞林

        光刻膠

        OLED

        防水涂層

        電子產品/電路板

        介電層

        ITO和TCOs

        射頻識別

        磁性材料

        砷化鎵

        空氣盒厚

        太陽能電池

        醫學器械

        微機電系統

        PVD和CVD

        鋁制外殼陽極膜

        硅橡膠



        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀產品參數:

        波長范圍:

        190nm-1340nm

        光源:

        鎢鹵素燈、氘燈

        厚度測量范圍:

        5nm-2mm

        測量精度:

        0.02nm

        光斑大小:

        標準1.5毫米

        樣品臺尺寸:

        1-300mm

        聯系我們獲取更多參數



        Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀測量圖:



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