Leica DMi8 S倒置顯微鏡有從手動到電動的各種組件，可*自由配置，讓您創建滿足研究和預算需求的理想成像系統。顯微鏡有多達兩個無限遠光路接口，可作為添加熒...

Axio Examiner臺式研究級顯微鏡在固定載物臺式顯微鏡上聚焦時無需移動樣品，而是移動物鏡。可以從側面和前部操作樣品，樣品空間超過100 mm。

Primotech智能化顯微鏡可靠的檢測結果，快速獲取可靠的結果。編碼型 5x 物鏡轉盤 – 節省時間并消除可能存在的誤差源。穩定的色溫和節能型 LED 光源。

LSM 800多功能共聚焦顯微鏡光顯微成像與共聚焦成像的出色結合，共聚焦平臺LSM 800 是應2D和3D材料應用需求而研發。并應用了正置顯微鏡的一系列觀察方式...

半導體檢查顯微鏡MX61L切換物鏡時自動調節連動的亮度光圈等，實現了舒適的檢查環境。配備14×12英寸載物臺，能應對大型樣本。

日本三豐MF -176測量顯微鏡可觀察清晰無閃爍正像，且視場開闊。測量精度在同類設備中高（符合JIS B 7153標準）。使用ML 系列，專門為MF 系列設計的...

MF 系列測量顯微鏡 X、Y 和Z 軸均為電動控制，工作臺可由控制手柄進行操作。Vision Unit （選件） 能使圖像自動對焦。照明裝置（反射/ 透射） 可...

日本三豐Hyper MF/MF-U高精度測量顯微鏡實現了高精度的測量顯微鏡。（小顯示分辨力0.01um）。主機的前臺操作設計是基于UD（通用化設計）的理念。配備...

日本三豐TM-500工具顯微鏡176系列配有新設計的LED 照明，可以進行清晰觀察測量，并具有顏色再現性。設置可選的LED 環形照明，可以進行豐富的觀察測量。小...

FS-70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等。可應用于切割、修整、校正、 給半導體電路做標記/...

日本三豐VMU視頻顯微鏡系統屬于緊湊輕量型顯微鏡，相機觀察型。適于檢測金屬表面、半導體、液晶面板、樹脂等。多種鏡體通常用作適用于專業器械的OEM（原廠委制） 產...

日本三豐WIDE VMU視頻顯微鏡系統裝配大視場圖像傳感器（相當2 型），保障光學性能不變，視場半徑約為VMU 系列的3倍，視場面積擴大約7 倍，為提高檢測效率...

日本三豐MF-U通用測量顯微鏡可觀察清晰無閃光正像，且視場開闊。測量精度在同類設備中高（符合JIS B 7153標準）。使用經過驗證的FS 光學系列高NA 物鏡...

日本三豐MF-U系列通用測量顯微鏡X、Y 和Z 軸均為電動控制，工作臺可由控制手柄進行操作。Vision Unit （選件） 能使影像自動對焦。照明裝置（反射/...

FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300N/ L300ND型集尼康光學技術于一身的CFI60光學系統，在亮度、對比度和可操作性能方面都達到高度，適合于大...

MULTIZOOM AZ100多功能變焦顯微鏡是一款介于體視顯微鏡和金相顯微鏡之間、兼備體視顯微鏡和金相顯微鏡兩方面特點的多功能變焦顯微鏡，它是尼康新推出的、具...

N-SIM超分辨率顯微鏡系統是尼康新推出的活細胞超分辨率成像技術, 可獲得傳統光學顯微鏡兩倍的分辨率。使用*的光學科技與制造技術，尼康享譽的Eclipse Ti...

N-STORM 4.0超分辨顯微成像系統實現了激光激發設計和sCMOS相機的升級，單張圖像的采集速率從分鐘級提高到秒極。另外，新系統在成像視野的選擇上提供了更高...

Multizoom AZ100AZ100M 變焦顯微鏡是一款可滿足從低倍到高倍變焦觀察應用需求的顯微鏡。其變焦范圍更廣，可實現5倍至400倍多種變焦倍率。 AZ...

A1+A1R+全自動共聚焦顯微鏡系統開創共聚焦成像新高度。A1 憑借傳統檢流計，獲取 4096x4096 高解析圖像；A1R 引入特別混合掃描器，512x512...