JR-CHY薄膜瑕疵檢測儀

項目背景
    薄膜作為包裝材料的主要形式，已經成為工業產品*的原材料。在薄膜的生產過程中，由于生產工藝及現場環境等影響，容易造成薄膜表面出現黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產品的外觀，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生產過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生產的根源，實現控制和提高薄膜的表面質量，一直是薄膜企業追求的目標。
    現代工業生產對薄膜表面的質量提出越來越高的要求，傳統的檢測方法如人工目視抽檢已經遠遠不能滿足現在工業生產中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求，基于CCD的薄膜表面瑕疵檢測系統與傳統的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠。準確的優點，目前已被許多薄膜企業所應用。
工作原理
    生產線正常生產時，高亮的LED線性聚光冷光源采用透射的原理照射在生產線表面（對于不透明的薄膜產品采用反射的檢測原理），架設在生產線上的線陣相機進行實時同步掃描，同時系統將相機采集到的薄膜圖像通過SIMV圖像處理單元進行瑕疵分割處理。

由于瑕疵圖像的灰階與正常產品的灰階存在明顯差異，從而使系統能夠發現瑕疵，同時對瑕疵進行有效的判定、分類。

技術介紹
    【薄膜表面檢測系統】主要用于檢測薄膜在生產過程中表面出現的黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業CCD相機、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統，及時準確的反應缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質量控制、產品評級提供真是準確數據的同時，有效的節約了生產成本、提高了產品質量。

常見瑕疵圖片