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玉崎科學儀器（深圳）有限公司
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產品介紹
OSI王子計測用于通用膠片的在線相位差儀
OSI王子計測用于通用膠片的在線相位差儀
用于通用膠片的在線相位差儀 KOBRA-WI/SPC
■特性
測量方法：
平行尼科爾光譜法
測量項目：相位差、取向角
Oji Keisoku (OSI 王子計測) KOBRA-WI/SPC 通用膠片在線相位差儀 產品介紹
KOBRA-WI/SPC 是王子計測專為卷對卷（R2R）薄膜產線設計的實時在線相位差 / 取向角監測系統 **，標準款（WI）單波長 590nm、/SPC 擴展多波長（450/550/590/630/750nm），采用平行尼科爾旋轉法，可直接安裝在拉伸、涂布、分切機上，實現全幅連續、非接觸、100% 在線檢測，解決離線抽檢漏檢、無法實時反饋工藝的痛點，面向 PET/PP/PE/PC/ 尼龍等通用透明薄膜的雙折射 / 取向均勻性管控。
一、核心定位與測量原理
1. 產品定位
核心用途：在線實時測量通用透明薄膜的相位差、分子配向角 (sin2φ)、雙折射均勻性，監控拉伸 / 涂布 / 分切工藝穩定性，實現全幅質量追溯、工藝閉環控制
核心優勢：非接觸、高速連續、全幅掃描、多波長色散、IP54 工業防護、即插即用、PLC 實時通訊
適用場景：PET/PP/PE/PS/PC/ 尼龍等包裝膜、光學膜、收縮膜、膠帶基膜的產線在線質檢、拉伸工藝優化、全幅均勻性監控、不良品實時剔除
2. 測量原理（平行尼科爾旋轉法）
光學架構：旋轉檢偏器 + 固定偏光子 + LED 光源 + 高速分光檢測，非接觸透射式測量，不損傷薄膜、不影響產線運行
核心邏輯：偏振光穿過薄膜產生雙折射相位延遲，通過旋轉檢偏器采集干涉光譜，實時解算相位差、配向角；/SPC 多波長模式可獲取波長色散曲線，評估光學膜的波長匹配特性
光源：高穩定 LED 固態光源（壽命 > 20000 小時），免預熱、抗震動、適合工業產線連續運行
二、關鍵技術參數（標準）
1. 測量核心參數
測量項目：相位差 (Retardation)、配向角 (sin2φ)、雙折射 Δn（輸入厚度自動計算）
相位差量程：1~5000nm（標準），可擴展至 20000nm（覆蓋通用薄膜全相位差區間）
相位差重復精度：≤±1nm（3σ）
配向角精度：±0.1°，分辨率 0.01°
測量波長：
KOBRA-WI（標準）：590nm（單波長）
KOBRA-WI/SPC（多波長擴展）：590nm（主）+450/550/630/750nm（分時切換，五波段）
測量光斑：標準5.8mm×5.8mm（33mm2），適配全幅掃描
測量速度：單點位≤50ms，支持連續全幅掃描（最高 10m/s 線速度）
樣品規格：透明薄膜，厚度≤3mm、幅寬≤2500mm（可定制）、線速度 0~10m/s
2. 工業硬件規格（在線專用）
結構：分體式（測量頭 + 控制器），測量頭 IP54 防護，內置空氣吹掃接口，防粉塵 / 水汽，適配產線惡劣環境
安裝：即插即用，可直接固定在產線機架（拉伸機 / 涂布機 / 分切機）上方，無需改造產線結構
通訊接口：EtherCAT、4-20mA 模擬量、RS232/485、以太網，直接對接 PLC/SCADA，實現實時數據上傳、工藝反饋、自動報警 / 剔除
供電：AC100~240V，50/60Hz
環境：溫度 10~40℃、濕度 30~80% RH（無結露），抗震動等級符合工業標準
尺寸 / 重量：測量頭約 W200×D300×H150mm，重約 8kg；控制器約 W400×D300×H200mm，重約 12kg
3. 軟件與數據功能（KOBRA-DSP 在線專用）
實時監控：全幅相位差 / 配向角二維分布圖、趨勢曲線、數值實時顯示，異常點高亮報警
數據統計：均值、標準差、Cpk、全幅均勻性分析、歷史數據追溯（CSV/Excel/PDF 導出）
工藝聯動：與產線 PLC 閉環，實時反饋拉伸倍率 / 溫度 / 張力參數，自動調整工藝，減少不良
操作：一鍵校準、參數預設、全幅掃描路徑自定義、合格閾值設定、自動生成質檢報告
三、核心產品優勢（在線專用，區別于臺式機型）
- 真正在線非接觸，不干擾產線
透射式非接觸測量，無接觸、無劃傷、不停機、不減速，適配高速卷對卷產線（0~10m/s）
全幅連續掃描，替代離線抽樣，100% 覆蓋幅寬，杜絕漏檢，實現全質量追溯
- 多波長 / SPC 擴展，滿足光學膜色散需求
標準 590nm 滿足通用包裝膜；**/SPC 五波長（450~750nm）** 可測波長色散，適配光學補償膜、偏光片配套膜的光學性能評估
一次掃描獲取多波長相位差，無需多次測量，提升效率
- 工業級穩定，即插即用，維護成本低
測量頭IP54 防護 + 空氣吹掃，適應產線粉塵、溫濕度波動，長期穩定運行
LED 光源長壽命、免維護，無旋轉易損件，維護成本遠低于傳統在線檢測設備
標準通訊接口，快速對接現有 PLC/SCADA，無需復雜電控改造
- 高速高精度，工藝閉環控制
單點位 50ms 高速采集，實時輸出數據，支持工藝參數自動調整，減少廢品率、提升良率
相位差精度 ±1nm，配向角 ±0.1°，滿足研發級與量產級雙重管控要求
四、典型應用領域
通用包裝薄膜：PET/PP/PE/ 尼龍拉伸膜、收縮膜、保鮮膜，在線監控拉伸取向均勻性、熱收縮性能、撕裂強度關聯指標
光學功能薄膜：低 / 中相位差光學膜、補償膜、偏光片基膜，全幅相位差 / 配向角管控、波長色散評估
膠帶 / 工業薄膜：膠帶基膜、保護膜、離型膜，在線 IQC、工藝穩定性監控、不良品實時剔除
產線工藝優化：拉伸機 / 涂布機 / 分切機的張力、溫度、拉伸倍率參數優化，建立工藝 - 光學性能關聯模型
五、型號區分（WI vs WI/SPC）
| 型號 | KOBRA-WI（標準單波長） | KOBRA-WI/SPC（多波長擴展） |
|---|---|---|
| 測量波長 | 590nm（單波長） | 450/550/590/630/750nm（五波段分時切換） |
| 核心用途 | 通用包裝膜、常規透明薄膜在線相位差監控 | 光學膜、補償膜，需波長色散特性評估的場景 |
| 價格 | 基礎款，性價比高 | 多波長擴展，溢價約 15%~20% |
| 數據輸出 | 單波長相位差 / 配向角 | 多波長色散曲線 + 單波長參數 |
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