能量色散 X 射線熒光分析儀(貴金屬高配)型 返回列表頁

基礎介紹:

XFL6（貴金屬高配）是一款化驗室常用的元素快速分析儀器，具有高性能 SDD 探測器分辨率更佳，背景更低，同時計數率更高測試時間更快的特點，以及下照式大容量樣品腔，可滿足各種形狀樣品的測試需求，多種準直器和濾光片的切換組合，可滿足各種檢測方案的應用，自研多道搭載高分辨率探測器和自主研發的光路系統，性能穩定可靠。同時搭載自主研發的智能操作系統，操作簡單，只需開蓋、放入樣品、關蓋、點擊檢測即可完成一次樣品分析，最大限度的減低人為誤差，儀器環境適應性強，無需配備穩壓裝置，維護成本極低，安全可靠，多重保護及聯動機制，保證儀器正常測試過程中與環境本底輻射無差異。

特點：

儀器采用 Si 半導體探測器分辨率遠遠好于國標 GB18043-2013 的要求

1.應用領域：

首飾加工廠、銀行、檢測機構、貴重金屬回收、典當公司，高校等。

2.高精度分析：

采用優良的檢測技術和高靈敏度的探測器，能夠對各種樣品進行精確的元素分析，準確測定元素的種類和含量。

3.快速檢測：

在短時間內即可完成樣品分析，大大提高了檢測效率，滿足實驗室和工業現場的快速分析需求。

4.廣泛適用性：

可分析固體、粉末、液體等多種形態的樣品，適用于地質、冶金、環保、材料科學等多個領域。

5.操作簡便：

儀器配備智能化的操作軟件，界面友好，易于操作，即使非專業人員也能快速上手。

6.穩定性強：

經過嚴格的質量控制和優化設計，具有出色的穩定性和可靠性，確保長期穩定的分析性能。