全新研發的Avantgarde.Line培養箱采用自然對流或強制對流方式營造完美的培養環境，可滿足生長、培養或培育等各項要求。此外，新一代培養箱還憑借APT.Iine™技術以高效率和完美的溫度控制博得客戶*。

均勻的光照及穩定的溫濕度相結合可為植物或其他生物體生長提供理想的培養環境。BINDER植物培養箱可提供培養所需的這些條件。因此，KBW系列箱體通過調整光照和溫度可為培養創造適宜環境。此外，KBWF系列還帶有濕度調節功能。BINDER的APT.Iine™預熱腔與反應迅速...

L*A家族中，小的中試型凍干機。采用和中試型凍干機相同的設計理念。相同的雙腔體結構設計、層板溫控系統以及比工業型凍干機更多樣的凍干研發工具配件。為凍干配方的前期開發及后期優化提供高性能工具。L*aMini在凍干工藝放大之前，幫助您深刻了解凍干過程中關鍵參數的變化，是您在凍干工藝放...

本產品采用準動態測量法，可同時測量薄膜材料的seebeck系數和電阻率，測溫范圍達到80K~600K。硬件特點動態法測量seebeck系數，避免了靜態法測量在溫差測量上面的系統誤差，測量更準確?采用雙向加熱系統，出現測試壞點，可以重新測試?seebeck系數和電阻率測量測量不共用...

本儀器采用準動態法（具有技術）和四探針法分別測量樣品的seebeck系數和電阻率。不僅可用于測量半導體塊狀樣品，康銅、鎳、鉍等金屬半金屬樣品，石墨、碳材料等非金屬樣品的seebeck系數和電阻率，還可測薄膜（納米）樣品的seebeck系數和電阻率。*優勢擁有獨立知識產權，獲得多項...

本儀器為無損檢測，并可同時檢測材料的相變溫度和熱膨脹系數。OPA的研發成功，一舉*補了無損檢測納米級薄膜材料相變溫度和熱膨脹系數的性技術空白，能測量低至5nm的薄膜材料。本儀器擁有多項發明，具有獨立知識產權。

本儀器采用3ω測試方法，利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導率。主要應用范圍為微/納米薄膜材料的熱導率測量，可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發，其涵蓋范圍包括高等院校及科研院所、集成電路散熱材料、航空航天材料、熱電材料與器件、信息存儲與光電器件。